徕卡全站仪自动量高功能-仪器量高的全新方式
发布日期:2020-12-01
阅读量:5537
作者:Li
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自动量高特性—仪器量高的全新方式

 

丈量仪器高一直是项费时费力的工作,当我们进行三维数据采集、传输、处理时,单纯使用传统卷尺来人工丈量仪器高,不论是在数据采集的准确性,还是可靠性方面,均存在明显的弊端。

 

随着徕卡TZ05、TZ08、TZ12的发布,徕卡测量系统将提供全新系列的可靠、耐用且高质量的手动全站仪,并且引入了自动量高这一全新的功能,只需轻轻一按即可获取仪器的高度。自动量高功能适用于徕卡TZ08和TZ12。

 

传统现状

 

如今,全站仪代表着精准强大的测量系统,有着高度复杂的机械和光电设计,并配有高效、易用的机载软件,为测量人员的日常测量和放样任务提供可靠的支持。

 

尽管如此,在实际测量工作开始之前,需要进行一项最基础的设站工作。将仪器架设在地面指定的控制点上,对中整平,设站完成之后可以将全站仪连接至更高级别的控制网中,而在设置完仪器高后,则最终可以进一步获取完整的三维坐标数据。

 

到目前为止,全站仪量高依旧是由测量人员通过卷尺进行丈量的,这样的量高结果往往并不可靠,并会对接下来所有的测量结果产生影响,最终导致一系列错误的产生:

 

忘带或者丢失卷尺,导致只能进行二维数据的采集,

卷尺磨损导致最终的测量结果存在难以发现的粗差,

卷尺操作不便,丈量的是斜距,且容易被弯曲,精度很差,

依靠人工读数,很容易无意识的输错,且难以发觉,

人工丈量费时费力,影响外业工作效率;

 

在过去,考虑到全站仪内部空间以及测距模块的尺寸限制,实现自动量高技术非常困难,如图2。

 

 

自动量高的原理

 

徕卡测量系统凭借200年的瑞士工艺,成功将精准可靠的Disto测距仪与全站仪相结合,EDM测距模块替代传统的垂直激光对中模块,并提供两大功能:

 

激光指向模式用于激光对中

EDM测距模式用于测量仪器高度

 

激光指向与传统垂直激光对中模块的工作原理相同,当仪器进入电子水准气泡界面,它将会自动开启,并可以根据周围光线环境调节激光强度。

 

EDM测距是基于时间飞行原理(TOF),通过双向测距技术来实现的。从图3中我们可以看出,以竖轴为中心的小透镜代表发射器(Tx),而偏心的大透镜(Rx)接受来自地面的反射光。它的特性见右表1。

 

自动高度可以测量任何表面,不需要特定的目标。特定的精度是指基于18%的反射率的物体,并具有实际意义,因为是根据最常见的地面反射体得出的,如测量钉,标记或混凝土。仪表高度可以直接测量并自动输入在仪器高的界面中,直接完成设站。当进入相应的面板(图4)时,激光指向会自动打开,操作员可以看到量高点的位置。仪器高总是在从指向光照射到地面的位置开始测量。此外,还可以选择输入高度偏移量,这个功能在特定情况下是很有用的。如果激光是直接测量到了测钉的十字内部缺口,这是就需要输入缺口至表面的高度。并且在这种情况下,缺口深度可以输入负的高度偏移量。

 

自动量高适配于现存的所有徕卡脚架和无光学对中的基座。在三角基座极端不平衡的情况下,仪器界面会出现警告(图5),请将仪器水平旋转180°以避开接收器的遮挡区域,并重试。

 

 

 

自动量高的优势

 

随着传统繁琐的卷尺量高被自动量高取代,外业测量变得更加精准,高效。

 

更低的工作强度:无需再低头弯腰丈量卷尺,并费力的去保证精度;

更低的返测率:EDM测距,一键自动完成设站量高,无需为了保证精度,重复多次丈量;

更高的测量效率:无需携带卷尺,一键量高,三秒钟即可完成设站工作;

更精准的测量精度:最小化人工丈量带来的误差影响,如读数误差,对中误差,斜距影响等,EDM同轴测距,精度高达1mm,精准可靠。

 

自动量高使得测量人员能高效,准确的完成全站仪的设站工作,简化操作流程,降低外业的工作强度,以更充沛的精力去完成后续的外业测量。

 

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徕卡测量系统突破自我,锐意创新,精准可靠的瑞士工艺和不断前行的变革精神,将继续引领测绘行业的发展与创新。

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